Random sample consensus : a paradigm for model fitting with applications to image analysis and automated cartography

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収録刊行物

  • Communications of the ACM

    Communications of the ACM 24(6), 381-395, 1981

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    30022110434
  • 資料種別
    雑誌論文
  • データ提供元
    CJP引用 
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