Electron channelling contrast imaging of interfacial defects in strained silicon-germanium layers on silicon
収録刊行物
-
- Philosophical Magazine A
-
Philosophical Magazine A 68 (1), 59-80, 1993-07
Informa UK Limited
- Tweet
キーワード
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1360855568975543424
-
- NII論文ID
- 30028335482
-
- ISSN
- 14606992
- 01418610
-
- データソース種別
-
- Crossref
- CiNii Articles