Optical properties of self-assembled Ge islands grown on Si(001) (日本電子顕微鏡学会第46回シンポジウム 材料のナノ・生物のナノ) -- (ポスターセッション "7th International Symposium on Advanced physical Fields(APF-7)"との合同セッション)

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Journal

  • Electron-microscopy

    Electron-microscopy 36(-), 268-271, 2001

    日本電子顕微鏡学会

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    40002545731
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN00145000
  • Text Lang
    ENG
  • Article Type
    会議録・学会報告
  • ISSN
    04170326
  • NDL Article ID
    5992699
  • NDL Source Classification
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL Call No.
    Z16-896
  • Data Source
    NDL 
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