書誌事項
- タイトル別名
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- Tech Tale 高速メモリ「Rambus仕様DRAM」の開発(最終回)爆発もフリーズも乗り越えて
- Tech Tale コウソク メモリ Rambus シヨウ DRAM ノ カイハツ サイシュウカイ バクハツ モ フリーズ モ ノリコエテ
- Tech Tale 高速メモリ「Rambus仕様DRAM」の開発(最終回)爆発もフリーズも乗り越えて
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抄録
NECが米Silicon Graphics,Inc.(SGI)へ18MビットのRambus仕様DRAMのサンプル出荷を始めた矢先,工場に出張していた部下から石川透氏に急報が届いた。作っても半分以上は検査で不良になるというのだ。回路上の問題というのが工場側の見解だった。 「そんなことあるわけないじゃない。工場の評価ミスじゃないの?」 石川氏は全く取り合わなかった。
収録刊行物
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- 日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation
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日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation (800), 195-199, 2001-07-16
東京 : 日経BP
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520572358712170112
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- NII論文ID
- 40002806061
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- NII書誌ID
- AN0018467X
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- ISSN
- 03851680
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- NDL書誌ID
- 5831030
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- Nikkei BP
- CiNii Articles