格子欠陥形状制御による高温超伝導体の臨界電流密度向上

• 小林 知洋

• 井上 学

• 寺井 隆幸

書誌事項

タイトル別名

• コウシ ケッカン ケイジョウ セイギョニヨルコウオン チョウデンドウタイ ノ

抄録

資料形態 : テキストデータ プレーンテキスト

収録刊行物

• 東京大学工学部総合試験所年報

  東京大学工学部総合試験所年報 (57), 171-175, 1998-09

  東京 : 東京大学工学部総合試験所

詳細情報

• CRID: 1520009407703630336
• NII論文ID: 40004086452
• NII書誌ID: AN0013422X
• ISSN: 03713067
• NDL書誌ID: 4573998
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4573998
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM2(科学技術--科学技術一般--大学・研究所・学会紀要)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles