32ビットマイクロプロセッサTX1のテスト容易化設計と実評価への適用

• 西村 明

• 野津山 泰幸

• 岩村 淳

書誌事項

タイトル別名

• 32ビット マイクロプロセッサ TX1 ノ テスト ヨウイカ セッケイ ト ジ
• シリコンLSIの高性能化技術特集 ; 回路技術--回路一般
• シリコン LSI ノ コウセイノウカ ギジュツ トクシュウ ; カイロ ギジュツ カイロ イッパン

収録刊行物

• 電子情報通信学会論文誌. C-2, エレクトロニクス. 2, 電子素子・応用 = The Transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers. C-2 / 電子情報通信学会 編

  電子情報通信学会論文誌. C-2, エレクトロニクス. 2, 電子素子・応用 = The Transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers. C-2 / 電子情報通信学会 編 72 (5), p449-455, 1989-05

  東京 : 電子情報通信学会エレクトロニクス ソサイエティ

詳細情報

• CRID: 1520290885242835328
• NII論文ID: 40004788808
• NII書誌ID: AN10071294
• ISSN: 09151907
• NDL書誌ID: 3233062
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I3233062
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles