Tip Aspect Dependence in Angular Confinement of Electron Emission from Ti/W<001> Field Emitter

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収録刊行物

  • Journal of Electron Microscopy

    Journal of Electron Microscopy 36(4), p151-156, 1987

    Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Press

被引用文献:  4件中 1-4件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    40005328132
  • NII書誌ID(NCID)
    AA00697060
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    雑誌論文
  • ISSN
    00220744
  • NDL 記事登録ID
    3151856
  • NDL 刊行物分類
    MC62(分子・物性--結晶)
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z53-T76
  • データ提供元
    CJP引用  NDL 
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