シリコンドリフト線検出器による走査電子顕微鏡でのSEM-EDX

• 石井 秀司

• 河合 潤

Bibliographic Information

Other Title

• シリコンドリフトセン ケンシュツキ ニ ヨル ソウサ デンシ ケンビキョウ デ ノ SEM EDX

Journal

• X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編

  X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編 (37), 281-288, 2006-03

  東京 : アグネ技術センター

Keywords

• Scanning electron microscope
• Silicon drift detector
• Line analysis
• Eutectic Pb-Sn solder
• シリコンドリフト検出器
• 線分析
• Pb-Sn共晶ハンダ

Details

• CRID: 1520853834970201728
• NII Article ID: 40007459877
• NII Book ID: AN0000592X
• ISSN: 09117806
• NDL BIB ID: 8087476
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8087476
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles