単結晶シリコンの吸収係数温度依存性測定

• 福世 文嗣

• 大村 悦二

• 福満 憲志

Bibliographic Information

Other Title

• タンケッショウ シリコン ノ キュウシュウ ケイスウ オンド イソンセイ ソクテイ
• Measurement of temperature dependences of absorption coefficient of single crystal silicon

Journal

• レーザ加工学会誌 = Journal of Japan Laser Processing Society

  レーザ加工学会誌 = Journal of Japan Laser Processing Society 14 (1), 22-26, 2007-01

  吹田 : レーザ加工学会

Keywords

• single crystal silicon
• measurement
• absorption coefficient
• temperature
• dependence
• 1064 nm
• laser
• internal processing

Details

• CRID: 1520853834301155712
• NII Article ID: 40015340879
• NII Book ID: AA11758611
• ISSN: 18816797
• NDL BIB ID: 8713623
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/8713623
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8713623
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles
  • KAKEN