位置選択的電子エネルギー損失分光法によるナノ表面・界面電子状態測定とその空間分布の可視化

• 武藤 俊介

• 吉田 朋子

書誌事項

タイトル別名

• イチ センタクテキ デンシ エネルギー ソンシツ ブンコウホウ ニ ヨル ナノ ヒョウメン カイメン デンシ ジョウタイ ソクテイ ト ソノ クウカン ブンプ ノ カシカ
• Measurement of surface/interface electronic states by position-resolved electron energy-loss spectroscopy and its spatial mapping on nanometer scale

収録刊行物

• 表面 / 表面談話会, コロイド懇話会 企画編集

  表面 / 表面談話会, コロイド懇話会 企画編集 45 (2), 27-38, 2007-02

  東京 : 広信社

キーワード

• transmission electron microscopy
• electron energy-loss spectroscopy
• chemical state analysis
• depth-resolved measurement
• spectrum imaging

詳細情報

• CRID: 1521417755365007104
• NII論文ID: 40015532159
• NII書誌ID: AN00211091
• ISSN: 0367648X
• NDL書誌ID: 8867676
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8867676
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZP2(科学技術--化学・化学工業--物理化学)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles
  • KAKEN