Direct observation of fluctuations in the number and individual electronic properties of interface traps in nanoscale metal-oxide-semiconductor field-effect transistors

• Toshiaki Tsuchiya

• Yuki Mori

• Yuta Morimura

書誌事項

タイトル別名

• Direct observation of fluctuations in the number and individual electronic properties of interface traps in nanoscale metal oxide semiconductor field effect transistors

抄録

コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌

収録刊行物

• Japanese journal of applied physics : JJAP

  Japanese journal of applied physics : JJAP 49 (6), 2010-06

  Tokyo : The Japan Society of Applied Physics

詳細情報

• CRID: 1520572359367118208
• NII論文ID: 40017176026
• NII書誌ID: AA12295836
• ISSN: 00214922
• NDL書誌ID: 10730878
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/10730878
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I10730878
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZM35(科学技術--物理学)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles