フォルトツリー解析を用いたマイクロ波放電式中和器の性能低下メカニズムとその検証

• 大道 渉

• 國中 均

書誌事項

タイトル別名

• フォルトツリー カイセキ オ モチイタ マイクロハ ホウデンシキ チュウワキ ノ セイノウ テイカ メカニズム ト ソノ ケンショウ
• Fault tree analysis of performance degradation of microwave discharge neutralizer and its verification

収録刊行物

• プラズマ応用科学 = Applied plasma science : journal of IAPS

  プラズマ応用科学 = Applied plasma science : journal of IAPS 19 (1), 36-41, 2011-06

  [茨木] : プラズマ応用科学会

キーワード

• Ion thruster
• ECR neutralizer
• Endurance enhancement
• Degradation mechanism
• Sputtering resistance

詳細情報

• CRID: 1520290883836730624
• NII論文ID: 40019025014
• NII書誌ID: AA12687461
• ISSN: 13403214
• NDL書誌ID: 11263767
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/11263767
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I11263767
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM35(科学技術--物理学)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles
  • KAKEN