低軟X線領域における大口径シリコンドリフト検出器を利用した部分蛍光収量XAFS測定

• 与儀 千尋

• 石井 秀司

• 中西 康次

書誌事項

タイトル別名

• テイナンXセン リョウイキ ニ オケル ダイコウケイ シリコンドリフト ケンシュツキ オ リヨウ シタ ブブン ケイコウ シュウリョウ XAFS ソクテイ
• Partial Fluorescence Yield XAFS Measurements in Lower Soft X-Ray Region by Using Large-Caliber Silicon Drift Detector

収録刊行物

• X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編

  X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編 (43), 147-152, 2012-03

  東京 : アグネ技術センター

キーワード

• Lower soft XAFS
• Large-caliber SDD
• Partial fluorescence yield
• 低軟X線XAFS
• 大口径SDD
• 部分蛍光収量

詳細情報

• CRID: 1520572359973256960
• NII論文ID: 40019263023
• NII書誌ID: AN0000592X
• ISSN: 09117806
• NDL書誌ID: 023653236
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023653236
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles