半導体量子ドットにおけるオージェ再結合の界面効果と温度効果  [in Japanese] Effect of Interface and Temperature on Auger Recombination Dynamics of Semiconductor Quantum Dots  [in Japanese]

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Journal

  • 表面

    表面 49(12), 397-406, 2011-12

    広信社

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    40019334588
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN00211091
  • Text Lang
    JPN
  • ISSN
    0367-648X
  • NDL Article ID
    023800302
  • NDL Call No.
    Z17-42
  • Data Source
    NDL 
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