複数識別器を用いた電子基板の欠陥分類

• 岩堀 祐之

• 中川 拓哉

書誌事項

タイトル別名

• フクスウ シキベツキ オ モチイタ デンシ キバン ノ ケッカン ブンルイ
• Defect Classification of Electronic Board Using Multiple Classifiers

収録刊行物

• 情報科学リサーチジャーナル = Journal of information science / 中部大学情報科学研究所 編

  情報科学リサーチジャーナル = Journal of information science / 中部大学情報科学研究所 編 20 105-108, 2013-03

  春日井 : 中部大学情報科学研究所

詳細情報

• CRID: 1520290882411798272
• NII論文ID: 40019638717
• NII書誌ID: AN1043295X
• ISSN: 13402935
• NDL書誌ID: 024439966
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/024439966
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I024439966
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM13(科学技術--科学技術一般--データ処理・計算機)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles
  • KAKEN