NEアカデミー HDDとSSDを使いこなす(第6回)SSDの寿命はDWPDを指標に ECCの限界にも留意

• 浅野 浩延

書誌事項

タイトル別名

• NE アカデミー HDD ト SSD オ ツカイコナス(ダイ6カイ)SSD ノ ジュミョウ ワ DWPD オ シヒョウ ニ ECC ノ ゲンカイ ニ モ リュウイ

抄録

SSDの代表的な不具合事例が三つある。OS起動用に利用しているSSDでのデータ破損や消失、MLC（multi-level　cell）のNANDフラッシュ・メモリを採用したSSDのパラドックスによるもの、そしてRAID技術への過信によるものである。　このうち、最近特に多く見られるのが、OS起…

収録刊行物

• 日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation

  日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation (1115), 72-76, 2013-08-19

  東京 : 日経BP

詳細情報

• CRID: 1520853832003335040
• NII論文ID: 40019732752
• NII書誌ID: AN0018467X
• ISSN: 03851680
• NDL書誌ID: 024742776
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I024742776
• Web Site: http://bizboard.nikkeibp.co.jp/houjin/cgi-bin/nsearch/md_pdf.pl/0000344528.pdf?NEWS_ID=0000344528&CONTENTS=1&bt=NE&SYSTEM_ID=HO
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • Nikkei BP
  • CiNii Articles