品質損失のもとでの計量規準型繰返グループ抜取検査の設計

• 友廣 亮介

• 有薗 育生

• 竹本 康彦

書誌事項

タイトル別名

• ヒンシツ ソンシツ ノ モト デ ノ ケイリョウ キジュンガタ クリカエシ グループ ヌキトリ ケンサ ノ セッケイ
• Design of Variable Repetitive Group Sampling Plan on Operating Characteristics Indexed by Quality Loss

収録刊行物

• 日本経営工学会論文誌 = Journal of Japan Industrial Management Association

  日本経営工学会論文誌 = Journal of Japan Industrial Management Association 64 (4), 519-529, 2014-01

  東京 : 日本経営工学会

キーワード

• operating characteristics
• Patnaik approximation
• quality loss
• repetitive group sampling plans
• 検査特性
• Patnaik近似
• 品質損失
• 繰返グループ抜取検査

詳細情報

• CRID: 1520572357217657600
• NII論文ID: 40019949084
• NII書誌ID: AN10561806
• ISSN: 13422618
• NDL書誌ID: 025159601
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025159601
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZD23(経済--企業・経営)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles