電子デバイス実装の信頼性評価に関する研究─これまでの研究を振り返って─

• 宮﨑 則幸

  京都大学

書誌事項

タイトル別名

• 招待講演 電子デバイス実装の信頼性評価に関する研究 : これまでの研究を振り返って
• ショウタイ コウエン デンシ デバイス ジッソウ ノ シンライセイ ヒョウカ ニ カンスル ケンキュウ : コレマデ ノ ケンキュウ オ フリカエッテ

収録刊行物

• マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集

  マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集 22 (0), 1-10, 2012

  一般社団法人 エレクトロニクス実装学会

詳細情報

• CRID: 1390285300182152576
• NII論文ID: 130007887139
• DOI: 10.11486/mes.22.0_1
• ISSN: 2434396X
• NDL書誌ID: 025550020
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025550020
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • CiNii Articles