イオンコンダクタンス顕微鏡 : 細胞膜表面の揺らぎを計測する

• 水谷 祐輔

• 田中 良昌

• 田中 あや

書誌事項

タイトル別名

• イオンコンダクタンス ケンビキョウ : サイボウマク ヒョウメン ノ ユラギ オ ケイソク スル
• Scanning Ion-Conductance Microscopy : Measurements of Nanoscale Fluctuations on Cell Surface
• 細胞機能に迫る非染色非破壊イメージング技術
• サイボウ キノウ ニ セマル ヒセンショク ヒハカイ イメージング ギジュツ

収録刊行物

• 光学 = Japanese journal of optics : publication of the Optical Society of Japan

  光学 = Japanese journal of optics : publication of the Optical Society of Japan 44 (6), 233-237, 2015-06

  東京 : 日本光学会

キーワード

• scanning ion conductance microscope
• cell surface
• fluctuations
• live cell imaging

詳細情報

• CRID: 1520572358114894592
• NII論文ID: 40020506555
• NII書誌ID: AN00080324
• ISSN: 03896625
• NDL書誌ID: 026554601
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/026554601
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I026554601
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM35(科学技術--物理学)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles