平行四辺形LPテストを用いた非線形回路の全解探索法

• 石黒 俊

• 高宮 将弘

• 山村 清隆

書誌事項

タイトル別名

• ヘイコウ シヘンケイ LP テスト オ モチイタ ヒセンケイ カイロ ノ ゼンカイタンサクホウ
• An Algorithm for Finding All DC Solutions of Nonlinear Circuits Using Parallelogram LP Test

収録刊行物

• 回路とシステムワークショップ論文集 Workshop on Circuits and Systems

  回路とシステムワークショップ論文集 Workshop on Circuits and Systems 28 172-177, 2015-08

  [東京] : [電子情報通信学会]

詳細情報

• CRID: 1520009407213034112
• NII論文ID: 40020806835
• NDL書誌ID: 027259996
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/027259996
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I027259996
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles
  • KAKEN