蛍光X線分析用標準物質の均質性と微小部蛍光X線分析への適応

• 山梨 眞生

• 後藤 淳志

• 辻 幸一

書誌事項

タイトル別名

• ケイコウ Xセン ブンセキヨウ ヒョウジュン ブッシツ ノ キンシツセイ ト ビコベ ケイコウ Xセン ブンセキ エ ノ テキオウ
• Homogeneity of reference material for X-ray fluorescence analysis and application to micro X-ray fluorescence spectroscopy

収録刊行物

• X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編

  X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編 (47), 263-270, 2016-03

  東京 : アグネ技術センター

キーワード

• Micro X-ray fluorescence analysis
• Micro analysis
• Quantitative analysis
• Reference material
• Elemental imaging
• 微小部蛍光X線分析
• 微小分析
• 定量分析
• 標準物質
• 元素イメージング

詳細情報

• CRID: 1520009410020424192
• NII論文ID: 40020812959
• NII書誌ID: AN0000592X
• ISSN: 09117806
• NDL書誌ID: 027273211
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/027273211
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I027273211
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles
  • KAKEN