共焦点型微小部蛍光Ｘ線分析におけるＸ線理論強度計算

• 河原 直樹

  大阪市立大学大学院工学研究科 株式会社リガクX線研究所XRF研究部

• 松野 剛士

  大阪市立大学大学院工学研究科

• 辻 幸一

  大阪市立大学大学院工学研究科

書誌事項

タイトル別名

• Calculation of fluorescent X-ray intensity for confocal micro XRF analysis
• キョウ ショウテンガタ ビコベ ケイコウ Xセン ブンセキ ニ オケル Xセン リロン キョウド ケイサン

抄録

CuとFeが垂直な境界で接する試料に対して，共焦点型微小部蛍光X線分析光学系を，吸収励起効果を考慮したモデルで蛍光X線強度をシミュレーションした．特に検出側にCuを配置した場合には，試料の外側を見込む測定において，Cu K蛍光X線による2次励起Fe K蛍光X線のみが観測されるという結果が得られた．また，実際に試料を製作して測定を行い，計算との比較や，2次励起蛍光X線のみの検出について検証した．いくつかの点で計算と実験とで定性的な一致が見られた．

収録刊行物

• Ｘ線分析の進歩

  Ｘ線分析の進歩 47 (0), 293-300, 2016-03-31

  公益社団法人 日本分析化学会　X線分析研究懇談会

キーワード

• 共焦点型微小部蛍光X線分析
• 吸収励起効果
• 2次励起
• FP法

詳細情報

• CRID: 1390015797132077056
• NII論文ID: 40020813030
• NII書誌ID: AN0000592X
• DOI: 10.57415/xshinpo.47.0_293
• ISSN: 27583651
• ISSN: 09117806
• NDL書誌ID: 027273325
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/027273325
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I027273325
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • CiNii Articles
  • KAKEN
• 抄録ライセンスフラグ: 使用可