スパースモデルのための特徴と標本の同時セーフスクリーニング (情報論的学習理論と機械学習)  [in Japanese] Simultaneous Safe Screening of Features and Samples in Doubly Sparse Modeling  [in Japanese]

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  • 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

    電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 116(121), 201-208, 2016-07-04

    電子情報通信学会

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    40020907513
  • Text Lang
    JPN
  • ISSN
    0913-5685
  • NDL Article ID
    027542919
  • NDL Call No.
    Z16-940
  • Data Source
    NDL 
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