LED電源の信頼性設計とHALT試験

• 末田 泰介

• 越前谷 大介

• 馬場 文明

• 前田 貴史

書誌事項

タイトル別名

• LED デンゲン ノ シンライセイ セッケイ ト HALT シケン
• Highly accelerated limit test for reliability design of LED power

収録刊行物

• 日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集 = Proceedings of Autumn Symposium on Reliability

  日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム発表報文集 = Proceedings of Autumn Symposium on Reliability 27 63-66, 2014-11-19

  東京 : 日本信頼性学会

詳細情報

• CRID: 1520572359876113920
• NII論文ID: 40021072483
• NDL書誌ID: 027863575
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/027863575
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I027863575
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM1(科学技術--科学技術一般)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles