短周期テストパタンを用いた超微細VLSI高信頼化のための遅延解析,劣化対策

• 加藤 健太郎

書誌事項

タイトル別名

• タンシュウキ テストパタン オ モチイタ チョウビサイ VLSI コウシンライカ ノ タメ ノ チエン カイセキ,レッカ タイサク
• Delay Analysis and Aging Detection Using Short Cycle Test Pattern for Design of Dependable VLSI

収録刊行物

• 日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 = Proceedings of Spring Symposium on Reliability

  日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 = Proceedings of Spring Symposium on Reliability 25 27-30, 2017-05-31

  東京 : 日本信頼性学会

詳細情報

• CRID: 1520572359873953792
• NII論文ID: 40021234684
• NDL書誌ID: 028314289
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I028314289
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM1(科学技術--科学技術一般)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles