An Incremental Automatic Test Pattern Generation Method for Multiple Stuck-at Faults

• 王 培坤

• ガラバギ アミル マサウド

• 藤田 昌宏

書誌事項

タイトル別名

• 多重縮退故障用インクリメンタルテストパターン自動生手法
• タジュウ シュクタイ コショウヨウ インクリメンタルテストパターン ジドウセイ シュホウ
• VLSI設計技術
• VLSI セッケイ ギジュツ

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 118 (430), 13-18, 2019-01

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• Incremental ATPG method
• multiple stuck-at faults
• undetected faults
• fault selection
• additional test patterns

詳細情報

• CRID: 1520009407094625408
• NII論文ID: 40021800965
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 029501194
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I029501194
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles