Bibliographic Information
- Other Title
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- ハリアワセ Si-on-Quartz キバン ジョウ ニ エピタキシャル セイチョウ シタ Geソウ ニ オケル コウシヒズミ ト コウガク ブッセイ ノ ヒョウカ
- Characterizations of lattice strain and optical properties for Ge layers epitaxially grown on bonded Si-on-quartz substrate
- 電子部品・材料
- デンシ ブヒン ・ ザイリョウ
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Journal
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 119 (35), 21-24, 2019-05
東京 : 電子情報通信学会
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520572357237697152
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- NII Article ID
- 40021913212
- 40021912825
- 40021915121
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles