イメージング 飛行時間型二次イオン質量分析法による表面分析

• 星 孝弘

書誌事項

タイトル別名

• イメージング ヒコウ ジカンガタ ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ ニ ヨル ヒョウメン ブンセキ
• Imaging : Introduction to ToF-SIMS

収録刊行物

• ぶんせき / 日本分析化学会 編

  ぶんせき / 日本分析化学会 編 2019 (7), 286-294, 2019-07

  東京 : 日本分析化学会

詳細情報

• CRID: 1520009408043053696
• NII論文ID: 40021971972
• NII書誌ID: AN00222622
• ISSN: 03862178
• NDL書誌ID: 029876883
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I029876883
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles