畳み込みニューラルネットワークを用いたテストパターンの再生

• 稲元 勉

• 樋上 喜信

Bibliographic Information

Other Title

• タタミコミ ニューラルネットワーク オ モチイタ テストパターン ノ サイセイ
• Regenerating test patterns by using convolutional neural networks

Journal

• 回路とシステムワークショップ論文集 Workshop on Circuits and Systems

  回路とシステムワークショップ論文集 Workshop on Circuits and Systems 32 234-239, 2019-08

  [東京] : [電子情報通信学会]

Details

• CRID: 1520009407026945280
• NII Article ID: 40021991413
• NDL BIB ID: 029933564
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/029933564
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I029933564
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles
  • KAKEN