招待講演 界面顕微光応答法による金属/半導体、半導体/半導体界面の2次元評価

• 塩島 謙次

書誌事項

タイトル別名

• ショウタイ コウエン カイメンケンビコウ オウトウホウ ニ ヨル キンゾク/ハンドウタイ 、 ハンドウタイ/ハンドウタイ カイメン ノ 2ジゲン ヒョウカ
• Mapping of Metal/Semiconductor and Semiconductor/Semiconductor Interfaces by Using Scanning Internal Photoemission Microscopy
• 電子部品・材料
• デンシ ブヒン ・ ザイリョウ

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 119 (271), 35-38, 2019-11

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• ワイドバンドギャップ半導体
• ショットキー電極
• 界面顕微光応答法
• 2次元評価
• wide-bandgap semiconductor
• Schottky contact
• scanning internal photoemission microscopy
• 2-dimentional characterization

詳細情報

• CRID: 1520572357755230464
• NII論文ID: 40022094193
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 030129228
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I030129228
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles