X線回折ラインプロファイル解析による微視組織評価法

• 西田 真之

  神戸市立工業高等専門学校 機械工学科

• 橋本 匡史

  橋本鉄工（株）

• 熊谷 正芳

  東京都市大学 工学部

書誌事項

タイトル別名

• Characterization of Microstructures by X-Ray Diffraction Line Profile Analysis
• X線回折ラインプロファイル解析による微視組織評価法(3)ラインプロファイル解析の利用例
• Xセン カイセツ ラインプロファイル カイセキ ニ ヨル ビシ ソシキ ヒョウカホウ(3)ラインプロファイル カイセキ ノ リヨウレイ
• III: Applications of Line Profile Analysis
• ３．ラインプロファイル解析の利用例

収録刊行物

• 材料

  材料 69 (5), 421-426, 2020-05-15

  公益社団法人 日本材料学会

キーワード

• X-ray & neutron diffraction, Line profile analysis, Dislocation density, Crystal defects, Characterization

詳細情報

• CRID: 1390003825181692160
• NII論文ID: 130007844439
• NII書誌ID: AN00096175
• DOI: 10.2472/jsms.69.421
• ISSN: 18807488
• ISSN: 05145163
• NDL書誌ID: 030448607
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I030448607
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/jsms/69/5/69_421/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles