画像検査へのAIの応用についての現状と将来に関する考察

• 成田 浩久

  名城大学 理工学部

• 舘山 武史

  愛知工科大学 工学部

• 永野 佳孝

  愛知工科大学 工学部

• 藤本 英雄

  名古屋工業大学 藤本技術総研

書誌事項

タイトル別名

• Consideration about the Present and Future of Al Application for Image Inspection
• ガゾウ ケンサ エ ノ AI ノ オウヨウ ニ ツイテ ノ ゲンジョウ ト ショウライ ニ カンスル コウサツ

収録刊行物

• 表面技術

  表面技術 71 (7), 459-463, 2020-07-01

  一般社団法人 表面技術協会

キーワード

• Deep Learning
• Image Recognition
• Product Inspection
• Transfer Learning
• Support Vector Machine

詳細情報

• CRID: 1391131406295120384
• NII論文ID: 130007965042
• NII書誌ID: AN1005202X
• DOI: 10.4139/sfj.71.459
• ISSN: 18843409
• ISSN: 09151869
• NDL書誌ID: 030545718
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I030545718
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/sfj/71/7/71_459/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles