軟X線領域のXAFS測定による模擬廃棄物ガラスの構造評価(共同研究)

• 永井 崇之

• 岡本 芳浩

• 山岸 弘奈

• 太田 俊明

• 小島 一男

• 猪瀬 毅彦

• 佐藤 誠一

• 畠山 清司

書誌事項

タイトル別名

• ナンXセン リョウイキ ノ XAFS ソクテイ ニ ヨル モギ ハイキブツ ガラス ノ コウゾウ ヒョウカ(キョウドウ ケンキュウ)
• Structural Investigation of Simulated Waste Class Samples by using XAFS Measurement in Soft X-ray Region (Joint Research)

収録刊行物

• JAEA-research

  JAEA-research 2020 (9), 2020-09

  東海村 (茨城県) : 日本原子力研究開発機構

キーワード

• Vitrification
• XAFS Measurement
• Borosilicate Glass
• Boron
• Oxygen
• Cerium
• Cesium

詳細情報

• CRID: 1520009409849987200
• NII論文ID: 40022372595
• NII書誌ID: AA12117124
• NDL書誌ID: 030681847
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I030681847
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN36(科学技術--原子力工学・工業)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles