赤外線カメラを使用したパワー半導体の歪みと温度の同時モニタリング

• 増田 貴樹

• 渡邉 晃彦

• 大村 一郎

書誌事項

タイトル別名

• セキガイセン カメラ オ シヨウ シタ パワー ハンドウタイ ノ ヒズミ ト オンド ノ ドウジ モニタリング
• Simultaneous Monitoring of Strain and Temperature for Power Semiconductor using Single IR Camera
• 電子デバイス 半導体電力交換合同研究会・パワーデバイス・パワーエレクトロニクスとその実装技術
• デンシ デバイス ハンドウタイ デンリョク コウカン ゴウドウ ケンキュウカイ ・ パワーデバイス ・ パワーエレクトロニクス ト ソノ ジッソウ ギジュツ

収録刊行物

• 電気学会研究会資料. SPC = The papers of technical meeting on semiconductor power converter, IEE Japan / 半導体電力変換研究会 [編]

  電気学会研究会資料. SPC = The papers of technical meeting on semiconductor power converter, IEE Japan / 半導体電力変換研究会 [編] 2020 (200-214), 81-86, 2020-12-21

  東京 : 電気学会

キーワード

• パワー半導体
• デジタル画像相関法
• 赤外線カメラ
• 歪み分布イメージング
• 温度分布イメージング
• Power semiconductor
• Digital Image Correlation
• Infrared camera
• Strain distribution imaging
• Temperature distribution imaging

詳細情報

• CRID: 1520009409979320192
• NII論文ID: 40022482364
• NII論文ID: 40022485559
• NII書誌ID: AN1044178X
• NDL書誌ID: 031283465
• NDL書誌ID: 031283075
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I031283465
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I031283075
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN32(科学技術--電気工学・電気機械工業--電力)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles