シリコン量子ドット単一キャリアスピンの高周波反射計測

• 米田 淳

• 溝口 来成

• 小寺 哲夫

書誌事項

タイトル別名

• シリコン リョウシ ドット タンイツ キャリアスピン ノ コウシュウハ ハンシャ ケイソク

収録刊行物

• 固体物理 / アグネ技術センター [編]

  固体物理 / アグネ技術センター [編] 56 (5), 265-276, 2021-05

  東京 : アグネ技術センター

詳細情報

• CRID: 1523388080974848640
• NII論文ID: 40022597097
• NII書誌ID: AN00092629
• ISSN: 04544544
• NDL書誌ID: 031515456
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/031515456
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I031515456
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM35(科学技術--物理学)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles
  • KAKEN