スペックル干渉計測法を基礎とする超解像技術の二次元化によるバイオ分野への利用の可能性

• 新井 泰彦

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• スペックル カンショウ ケイソクホウ オ キソ ト スル チョウカイゾウ ギジュツ ノ ニジゲンカ ニ ヨル バイオ ブンヤ エ ノ リヨウ ノ カノウセイ

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• 機械の研究 = Science of machine

  機械の研究 = Science of machine 74 (1), 22-32, 2022-01

  東京 : 養賢堂

Details

• CRID: 1524232505987341568
• NII Article ID: 40022783857
• NII Book ID: AN00349838
• ISSN: 03685713
• NDL BIB ID: 031897347
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I031897347
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN11(科学技術--機械工学・工業)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles
  • KAKEN