A study on high density and fault diagnostic technology for programmable ROM プログラマブルROM高密度化と故障診断技術に関する研究

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著者

    • 福島, 敏高 フクシマ, トシタカ

書誌事項

タイトル

A study on high density and fault diagnostic technology for programmable ROM

タイトル別名

プログラマブルROM高密度化と故障診断技術に関する研究

著者名

福島, 敏高

著者別名

フクシマ, トシタカ

学位授与大学

早稲田大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第610号

学位授与年月日

1987-02-19

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000012693
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000012700
  • NDL書誌ID
    • 000000177007
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
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