高密度MOSデバイスにおける,衝突電離に起因した特性劣化に関する研究
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著者
書誌事項
- タイトル
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高密度MOSデバイスにおける,衝突電離に起因した特性劣化に関する研究
- 著者名
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松本, 平八
- 著者別名
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マツモト, ヘイハチ
- 学位授与大学
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京都大学
- 取得学位
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工学博士
- 学位授与番号
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乙第5734号
- 学位授与年月日
-
1985-11-25
注記・抄録
博士論文
高密度MOSデバイスにおける,衝突電離に起因した特性劣化に関する研究
松本, 平八
マツモト, ヘイハチ
京都大学
工学博士
乙第5734号
1985-11-25
博士論文