口唇裂奇形発生過程の走査電子顕微鏡的観察

Author

    • 木村, 孝雪 キムラ, タカユキ

Bibliographic Information

Title

口唇裂奇形発生過程の走査電子顕微鏡的観察

Author

木村, 孝雪

Author(Another name)

キムラ, タカユキ

University

千葉大学

Types of degree

医学博士

Grant ID

乙第763号

Degree year

1985-10-17

Note and Description

博士論文

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000022846
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000022874
  • NDLBibID
    • 000000187160
  • Source
    • NDL ONLINE
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