MOSトランジスターに於けるホットキャリア効果とサブミクロンデバイス構造の研究

Search this Article

Author

    • 武田, 英次 タケダ, エイジ

Bibliographic Information

Title

MOSトランジスターに於けるホットキャリア効果とサブミクロンデバイス構造の研究

Author

武田, 英次

Author(Another name)

タケダ, エイジ

University

東京大学

Types of degree

工学博士

Grant ID

乙第8332号

Degree year

1987-03-19

Note and Description

博士論文

Table of Contents

  1. 目次 (4コマ目)
0access

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000031834
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000031890
  • DOI(NDL)
  • NDLBibID
    • 000000196148
  • Source
    • NDL ONLINE
    • NDL Digital Collections
Page Top