Analytical characterization of amorphous semiconductors and devices アモルファス半導体およびデバイスの分析・特性評価
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著者
書誌事項
- タイトル
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Analytical characterization of amorphous semiconductors and devices
- タイトル別名
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アモルファス半導体およびデバイスの分析・特性評価
- 著者名
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深田, 昇
- 著者別名
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フカダ, ノボル
- 学位授与大学
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大阪大学
- 取得学位
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工学博士
- 学位授与番号
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乙第4479号
- 学位授与年月日
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1988-06-09
注記・抄録
博士論文
目次
- 目次 (6コマ目)