Defect and structural fluctuation in tetrahedrally bonded amorphous semiconductors テトラヘドラル系アモルファス半導体における欠陥および構造のゆらぎ

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Author

    • 石井, 信彦 イシイ, ノブヒコ

Bibliographic Information

Title

Defect and structural fluctuation in tetrahedrally bonded amorphous semiconductors

Other Title

テトラヘドラル系アモルファス半導体における欠陥および構造のゆらぎ

Author

石井, 信彦

Author(Another name)

イシイ, ノブヒコ

University

広島大学

Types of degree

工学博士

Grant ID

乙第1633号

Degree year

1987-10-15

Note and Description

博士論文

Table of Contents

  1. 目次 (5コマ目)
1access

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000045770
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000045853
  • DOI(NDL)
  • NDLBibID
    • 000000210084
  • Source
    • NDL ONLINE
    • NDL Digital Collections

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