Chemical structures and electronic properties of silicon nitride films シリコン窒化膜の化学構造と電子物性に関する研究

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著者

    • 藤田, 静雄 フジタ, シズオ

書誌事項

タイトル

Chemical structures and electronic properties of silicon nitride films

タイトル別名

シリコン窒化膜の化学構造と電子物性に関する研究

著者名

藤田, 静雄

著者別名

フジタ, シズオ

学位授与大学

京都大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第7243号

学位授与年月日

1990-05-23

注記・抄録

博士論文

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目次

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000067027
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000067201
  • DOI(NDL)
  • 本文言語コード
    • eng
  • NDL書誌ID
    • 000000231341
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
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