Defects in hydrogenated amorphous silicon and its based alloy films 水素化アモルファスシリコン及びシリコン系合金薄膜における欠陥

この論文をさがす

著者

    • 徐, 希翔 ジョ, キショウ

書誌事項

タイトル

Defects in hydrogenated amorphous silicon and its based alloy films

タイトル別名

水素化アモルファスシリコン及びシリコン系合金薄膜における欠陥

著者名

徐, 希翔

著者別名

ジョ, キショウ

学位授与大学

金沢大学

取得学位

学術博士

学位授与番号

甲第974号

学位授与年月日

1990-03-25

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 (4コマ目)
1アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000070168
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000070354
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000234482
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ