プロセシングプラズマ中の電界のレーザー計測法に関する研究
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Bibliographic Information
- Title
-
プロセシングプラズマ中の電界のレーザー計測法に関する研究
- Author
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山形, 幸彦
- Author(Another name)
-
ヤマガタ, ユキヒコ
- University
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九州大学
- Types of degree
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工学博士
- Grant ID
-
甲第2827号
- Degree year
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1991-03-27
Note and Description
博士論文
第1章 緒論 第2章 グロー放電プラズマ中の各種電界計測法とレーザー計測法の特長 第3章 レーザーオプトガルバノ法による電界計測法の開発 第4章 レーザー蛍光法による電界計測法の開発 第5章 結論
Table of Contents
- 目次 / p1 (0003.jp2)
- 記号の説明 / p1 (0005.jp2)
- 第1章 緒論 / p1 (0009.jp2)
- 1.1 放電プラズマの研究分野 / p1 (0009.jp2)
- 1.2 プロセシングプラズマ中の電界計測の必要性 / p5 (0013.jp2)
- 1.3 本研究の内容 / p7 (0015.jp2)
- 第2章 グロー放電プラズマ中の各種電界計測法とレーザー計測法の特長 / p9 (0017.jp2)
- 2.1 電界計測法の比較 / p9 (0017.jp2)
- 2.2 プロセシングプラズマ中の電界のシュタルク効果によるレーザー計測の特長と問題点 / p11 (0019.jp2)
- 2.3 プロセシングプラズマ中に存在する粒子種 / p13 (0021.jp2)
- 2.4 本研究の課題 / p15 (0023.jp2)
- 第3章 レーザーオプトガルバノ法による電界計測法の開発 / p16 (0024.jp2)
- 3.1 序論 / p16 (0024.jp2)
- 3.2 レーザーオプトガルバノ法による電界検出下限の改善 / p18 (0026.jp2)
- 3.3 レーザーオプトガルバノ法による電界計測の一般化の問題点 / p33 (0041.jp2)
- 3.4 結論 / p37 (0045.jp2)
- 第4章 レーザー蛍光法による電界計測法の開発 / p39 (0047.jp2)
- 4.1 序論 / p39 (0047.jp2)
- 4.2 レーザー蛍光法による電界計測の較正法の開発 / p40 (0048.jp2)
- 4.3 各種放電条件下におけるレーザー蛍光法による電界計測の考察 / p55 (0063.jp2)
- 4.4 結論 / p70 (0078.jp2)
- 第5章 結論 / p72 (0080.jp2)
- 参考文献 / p75 (0083.jp2)
- 謝辞 / p81 (0089.jp2)