分光分析における測定信号の評価とその応用 ブンコウ ブンセキ ニオケル ソクテイ シンゴウ ノ ヒョウカ ト ソノオウヨウ
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著者
書誌事項
- タイトル
-
分光分析における測定信号の評価とその応用
- タイトル別名
-
ブンコウ ブンセキ ニオケル ソクテイ シンゴウ ノ ヒョウカ ト ソノオウヨウ
- 著者名
-
磯山, 博文
- 著者別名
-
イソヤマ, ヒロフミ
- 学位授与大学
-
名古屋工業大学
- 取得学位
-
工学博士
- 学位授与番号
-
甲第48号
- 学位授与年月日
-
1991-03-23
注記・抄録
博士論文
主査:中川 元吉
目次
- 目次 / p1 (0003.jp2)
- 論文要旨 / p5 (0005.jp2)
- 第1章 緒言 / p1 (0006.jp2)
- 第2章 信号記録システム / p3 (0007.jp2)
- 2.1 アナログ/ディジタルコンバーター(ハードウエアー) / p3 (0007.jp2)
- 2.2 信号処理プログラム(ソフトウエアー) / p6 (0009.jp2)
- 2.3 参考文献 / p20 (0016.jp2)
- 第3章 重量による標準添加法 / p21 (0016.jp2)
- 3.1 まえがき / p21 (0016.jp2)
- 3.2 理論 / p22 (0017.jp2)
- 3.3 実験 / p24 (0018.jp2)
- 3.4 結果と考察 / p26 (0019.jp2)
- 3.5 実試料分析 / p27 (0019.jp2)
- 3.6 参考文献 / p29 (0020.jp2)
- 第4章 四塩化炭素溶媒を用いる一滴法フレームAAS法 / p31 (0021.jp2)
- 4.1 まえがき / p31 (0021.jp2)
- 4.2 装置 / p32 (0022.jp2)
- 4.3 抽出操作 / p32 (0022.jp2)
- 4.4 信号波形の評価 / p33 (0022.jp2)
- 4.5 実試料分析 / p39 (0025.jp2)
- 4.6 参考文献 / p39 (0025.jp2)
- 第5章 フレームAAS法における絶対量直接測定法 / p41 (0026.jp2)
- 5.1 まえがき / p41 (0026.jp2)
- 5.2 装置と器具 / p41 (0026.jp2)
- 5.3 全積分測定の評価 / p44 (0028.jp2)
- 5.4 実試料分析 / p48 (0030.jp2)
- 5.5 参考文献 / p50 (0031.jp2)
- 第6章 一滴法ICP-AES法における時分割方式同時バックグラウンド補正 / p51 (0031.jp2)
- 6.1 まえがき / p51 (0031.jp2)
- 6.2 装置 / p53 (0032.jp2)
- 6.3 時分割周期の評価 / p55 (0033.jp2)
- 6.4 参考文献 / p61 (0036.jp2)
- 第7章 ICP-AES法におけるクロスフローネブライザー付噴霧室の小型化 / p63 (0037.jp2)
- 7.1 まえがき / p63 (0037.jp2)
- 7.2 装置 / p64 (0038.jp2)
- 7.3 小型噴霧室の評価 / p68 (0040.jp2)
- 7.4 参考文献 / p75 (0043.jp2)
- 第8章 ICP-AES法における同軸ネブライザー付噴霧室の小型化 / p77 (0044.jp2)
- 8.1 まえがき / p77 (0044.jp2)
- 8.2 装置 / p78 (0045.jp2)
- 8.3 各種噴霧室の評価 / p80 (0046.jp2)
- 8.4 参考文献 / p86 (0049.jp2)
- 第9章 一滴法ICP-AES法による標準試料中の微量金属定量(小型噴霧室と時分割バックグラウンド補正システムの応用) / p87 (0049.jp2)
- 9.1 まえがき / p87 (0049.jp2)
- 9.2 装置 / p88 (0050.jp2)
- 9.3 試料分解 / p89 (0050.jp2)
- 9.4 分析結果と考察 / p92 (0052.jp2)
- 9.5 参考文献 / p94 (0053.jp2)
- 第10章 ICP-AES法による蛇紋岩中のSr,Ti及びBeの定量 / p95 (0053.jp2)
- 10.1 まえがき / p95 (0053.jp2)
- 10.2 装置 / p97 (0054.jp2)
- 10.3 試料分解 / p97 (0054.jp2)
- 10.4 分析結果と考察 / p98 (0055.jp2)
- 10.5 参考文献 / p100 (0056.jp2)
- 第11章 電熱気化-ICP-AES法における炉内直接標準添加法 / p101 (0056.jp2)
- 11.1 まえがき / p101 (0056.jp2)
- 11.2 装置 / p102 (0057.jp2)
- 11.3 プラズマへの試料導入効率 / p105 (0058.jp2)
- 11.4 信号波形とマトリックスモディファイヤー / p106 (0059.jp2)
- 11.5 実試料分析 / p110 (0061.jp2)
- 11.6 参考文献 / p112 (0062.jp2)
- 第12章 ICP-AES法における交換型再循環噴霧室の開発 / p113 (0062.jp2)
- 12.1 まえがき / p113 (0062.jp2)
- 12.2 装置 / p114 (0063.jp2)
- 12.3 交換型噴霧室の評価 / p117 (0064.jp2)
- 12.4 実試料分析 / p123 (0067.jp2)
- 12.5 参考文献 / p126 (0069.jp2)
- 第13章 ICP-AES法における再循環/ワンウェイ両用型噴霧室の開発 / p127 (0069.jp2)
- 13.1 まえがき / p127 (0069.jp2)
- 13.2 装置 / p128 (0070.jp2)
- 13.3 両用型噴霧室の評価 / p130 (0071.jp2)
- 13.4 実試料分析 / p136 (0074.jp2)
- 13.5 参考文献 / p138 (0075.jp2)
- 第14章 結言 / p140 (0076.jp2)
- 謝辞 / p144 (0078.jp2)
- 著者発表の研究論文 / p145 (0078.jp2)