溶接継手の残留応力除去焼なまし処理時における力学的挙動と割れに関する研究

この論文をさがす

著者

    • 房, 漢瑞 バン, ハンソウ

書誌事項

タイトル

溶接継手の残留応力除去焼なまし処理時における力学的挙動と割れに関する研究

著者名

房, 漢瑞

著者別名

バン, ハンソウ

学位授与大学

大阪大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

甲第4398号

学位授与年月日

1991-09-30

注記・抄録

博士論文

14401甲第04398号

博士(工学)

大阪大学

1991-09-30

09910

目次

  1. 目次 / (0003.jp2)
  2. 第1章 緒論 / p1 (0006.jp2)
  3. 第2章 厚板の最終層溶接で生じる残留応力・塑性ひずみ分布の特徴とそれらの生成機構 / p6 (0009.jp2)
  4. 2.1 緒言 / p6 (0009.jp2)
  5. 2.2 解析対象 / p7 (0009.jp2)
  6. 2.3 厚板の最終層溶接における温度分布の特徴 / p9 (0010.jp2)
  7. 2.4 溶接残留応力・塑性ひずみ分布の特徴とそれらの生成機構 / p10 (0011.jp2)
  8. 2.5 考察 / p19 (0015.jp2)
  9. 2.6 結言 / p20 (0016.jp2)
  10. 第3章 厚板最終層溶接部の溶接後熱処理時における力学挙動 / p22 (0017.jp2)
  11. 3.1 緒言 / p22 (0017.jp2)
  12. 3.2 厚板最終層溶接部の溶接後熱処理時における力学挙動 / p24 (0018.jp2)
  13. 3.3 応力集中部がPWHT時の力学挙動に及ぼす影響 / p32 (0022.jp2)
  14. 3.4 考察 / p40 (0026.jp2)
  15. 3.5 結言 / p41 (0026.jp2)
  16. 第4章 WESの再熱割れ感受性評価試験片の力学挙動 / p43 (0027.jp2)
  17. 4.1 緒言 / p43 (0027.jp2)
  18. 4.2 WES試験片と溶接およびPWHT条件 / p43 (0027.jp2)
  19. 4.3 溶接残留応力・塑性ひずみ分布の特徴 / p45 (0028.jp2)
  20. 4.4 WES試験片のPWHT時における力学挙動 / p52 (0032.jp2)
  21. 4.5 結言 / p61 (0036.jp2)
  22. 第5章 円周溶接継手再熱割れ試験片の提案 / p63 (0037.jp2)
  23. 5.1 緒言 / p63 (0037.jp2)
  24. 5.2 軸対称試験片の溶接およびPWHT時の力学挙動 / p63 (0037.jp2)
  25. 5.3 円周継手再熱割れ感受性評価試験片の提案 / p70 (0041.jp2)
  26. 5.4 結言 / p86 (0049.jp2)
  27. 第6章 再熱割れの実験および相当クリープひずみによる割れ発生評価の試み / p88 (0050.jp2)
  28. 6.1 緒言 / p88 (0050.jp2)
  29. 6.2 実験 / p88 (0050.jp2)
  30. 6.3 相当クリープひずみによる再熱割れ発生の判定 / p93 (0052.jp2)
  31. 6.4 結言 / p95 (0053.jp2)
  32. 第7章 各種再熱割れ試験片の力学的特性と実機への適用性 / p97 (0054.jp2)
  33. 7.1 緒言 / p97 (0054.jp2)
  34. 7.2 WES試験片と軸対称試験片の力学的特性 / p98 (0055.jp2)
  35. 7.3 両試験片の力学的相違点 / p100 (0056.jp2)
  36. 7.4 結言 / p101 (0056.jp2)
  37. 第8章 総括 / p103 (0057.jp2)
  38. 付録 2次元平面変形解析が有する力学的意義 / p110 (0061.jp2)
  39. A.1 緒言 / p110 (0061.jp2)
  40. A.2 温度特性に注目した3次元問題と2次元平面変形問題との本質的差異と解析モデルの設定 / p110 (0061.jp2)
  41. A.3 溶接残留応力・塑性ひずみ分布に及ぼす溶接長と溶接速度の影響 / p112 (0062.jp2)
  42. A.4 3次元と2次元平面変形熱弾塑性解析結果との比較考察 / p117 (0064.jp2)
  43. A.5 結言 / p122 (0067.jp2)
  44. 謝辞 / p124 (0068.jp2)
  45. 参考文献 / p125 (0068.jp2)
  46. 本研究に関連した発表論文 / p129 (0070.jp2)
3アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000080577
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000080784
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000244891
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
ページトップへ