イオン照射によって酸化物系セラミックスに導入された欠陥、主として転位に関する電子顕微鏡を用いた研究

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著者

    • 太田, 丈児 オオタ, ジョウジ

書誌事項

タイトル

イオン照射によって酸化物系セラミックスに導入された欠陥、主として転位に関する電子顕微鏡を用いた研究

著者名

太田, 丈児

著者別名

オオタ, ジョウジ

学位授与大学

東京大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

甲第9034号

学位授与年月日

1991-03-29

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 目次 / (0002.jp2)
  2. 第1章 緒言 / p1 (0004.jp2)
  3. 第1章の参考文献 / p8 (0011.jp2)
  4. 第2章 酸化物セラミックスの照射損傷 / p9 (0012.jp2)
  5. 2-1 序論 / p9 (0012.jp2)
  6. 2-2 入射イオンの飛程および損傷量の評価 / p12 (0015.jp2)
  7. 2-3 実験方法 / p16 (0019.jp2)
  8. 2-4 Mg0の照射損傷 / p19 (0022.jp2)
  9. 2-5 Al₂O₃の照射損傷 / p36 (0039.jp2)
  10. 2-6 Mg-Al₂O₄の照射損傷 / p45 (0048.jp2)
  11. 2-7 結論 / p51 (0054.jp2)
  12. 第2章の参考文献 / p52 (0055.jp2)
  13. 第3章 Mg0結晶中の欠陥の高分解能電子顕微鏡観察 / p54 (0057.jp2)
  14. 3-1 序論 / p54 (0057.jp2)
  15. 3-2 NaCl型結晶中の転位に関する従来の研究 / p55 (0058.jp2)
  16. 3-3 高分解能電子顕微鏡像の計算原理と計算方法 / p59 (0062.jp2)
  17. 3-4 像計算の結果 / p71 (0074.jp2)
  18. 3-5 実験方法 / p82 (0085.jp2)
  19. 3-6 実験結果および考察 / p82 (0085.jp2)
  20. 第3章の参考文献 / p101 (0105.jp2)
  21. 第4章 結言 / p102 (0106.jp2)
  22. 謝辞 / p104 (0108.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000081792
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000082000
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000246106
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
    • NDLデジタルコレクション
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