トカマクにおける電流駆動プラズマの計測に関する研究

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Author

    • 永尾, 明博 ナガオ, アキヒロ

Bibliographic Information

Title

トカマクにおける電流駆動プラズマの計測に関する研究

Author

永尾, 明博

Author(Another name)

ナガオ, アキヒロ

University

九州大学

Types of degree

工学博士

Grant ID

乙第4989号

Degree year

1991-07-29

Note and Description

博士論文

Table of Contents

  1. 目次 / p1 (0003.jp2)
  2. 第1章 序論 / p1 (0012.jp2)
  3. 第1-1節 核融合のためのプラズマ研究の現状 / p1 (0012.jp2)
  4. 第1-2節 トカマクにおける電流駆動に関する研究の現状 / p11 (0022.jp2)
  5. 第1-3節 プラズマ計測に関する研究の現状 / p13 (0024.jp2)
  6. 第1-4節 本研究の意義と本論文の構成及び内容の概要 / p14 (0025.jp2)
  7. 参考文献 / p17 (0028.jp2)
  8. 第2章 実験装置の概要 / p19 (0030.jp2)
  9. 第2-1節 緒言 / p19 (0030.jp2)
  10. 第2-2節 TRIAM-1Mの概要 / p19 (0030.jp2)
  11. 第2-3節 TRIAM-1Mにおけるプラズマ計測 / p23 (0034.jp2)
  12. 参考文献 / p27 (0038.jp2)
  13. 第3章 イオン温度の計測 / p28 (0039.jp2)
  14. 第3-1節 緒言 / p28 (0039.jp2)
  15. 第3-2節 中性粒子分析装置の設計 / p29 (0040.jp2)
  16. 第3-2-1 測定原理 / p29 (0040.jp2)
  17. 第3-2-2 静電型アナライザーの基本設計 / p30 (0041.jp2)
  18. 第3-2-3 信号処理システム / p45 (0056.jp2)
  19. 第3-3節 装置の校正 / p45 (0056.jp2)
  20. 第3-4節 結言 / p53 (0064.jp2)
  21. 参考文献 / p54 (0065.jp2)
  22. 第4章 電子温度の計測 / p55 (0066.jp2)
  23. 第4-1節 緒言 / p55 (0066.jp2)
  24. 第4-2節 トムソン散乱装置 / p55 (0066.jp2)
  25. 第4-2-1 マルチトムソン散乱装置の概要 / p55 (0066.jp2)
  26. 第4-2-2 マルチトムソン散乱装置の構成 / p56 (0067.jp2)
  27. 第4-2-3 装置の校正 / p69 (0080.jp2)
  28. 第4-3節 軟X線測定装置 / p70 (0081.jp2)
  29. 第4-3-1 軟X線放射過程及び測定原理 / p70 (0081.jp2)
  30. 第4-3-2 軟X線測定装置の構成 / p75 (0086.jp2)
  31. 第4-3-3 装置の校正 / p79 (0090.jp2)
  32. 第4-4節 結言 / p81 (0092.jp2)
  33. 参考文献 / p87 (0098.jp2)
  34. 第5章 電流駆動プラズマにおける計測 / p88 (0099.jp2)
  35. 第5-1節 緒言 / p88 (0099.jp2)
  36. 第5-2節 電流駆動実験の概要 / p88 (0099.jp2)
  37. 第5-3節 測定結果および考察 / p93 (0104.jp2)
  38. 第5-3-1 イオンのエネルギースペクトル及び温度 / p93 (0104.jp2)
  39. 第5-3-2 電子温度及び電子密度 / p107 (0118.jp2)
  40. 第5-3-3 不純物挙動 / p115 (0126.jp2)
  41. 第5-4節 結言 / p121 (0132.jp2)
  42. 参考文献 / p122 (0133.jp2)
  43. 第6章 結論 / p123 (0134.jp2)
  44. 第6-1節 研究のまとめ / p123 (0134.jp2)
  45. 第6-2節 今後の問題と展望 / p124 (0135.jp2)
  46. 謝辞 / p126 (0137.jp2)
3access

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000082562
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000082771
  • DOI(NDL)
  • NDLBibID
    • 000000246876
  • Source
    • NDL ONLINE
    • NDL Digital Collections
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