半導体レーザを用いたフォトン走査トンネル顕微鏡
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著者
書誌事項
- タイトル
-
半導体レーザを用いたフォトン走査トンネル顕微鏡
- 著者名
-
蒋, 曙東
- 著者別名
-
ジャン, スウトン
- 学位授与大学
-
東京工業大学
- 取得学位
-
工学博士
- 学位授与番号
-
甲第2480号
- 学位授与年月日
-
1992-03-26
注記・抄録
博士論文
目次
- 論文目録 / (0002.jp2)
- <目次> / (0004.jp2)
- 第1章 序論 / p1 (0007.jp2)
- 1-1 研究の背景 / p2 (0008.jp2)
- 1-2 研究目的 / p11 (0017.jp2)
- 1-3 論文の構成 / p11 (0017.jp2)
- 第2章 透過形フォトンSTMの原理及びシステム / p14 (0020.jp2)
- 2-1 PSTMの原理及び理論計算 / p14 (0020.jp2)
- 2-2 システムの構成 / p27 (0033.jp2)
- 2-3 システムの安定性 / p34 (0040.jp2)
- 2-5 まとめ / p36 (0042.jp2)
- 第3章 ファイバ･プローブの作成 / p37 (0043.jp2)
- 3-1 ファイバ先端尖鋭化 / p37 (0043.jp2)
- 3-2 コーティング / p52 (0058.jp2)
- 3-3 開口作成技術について / p54 (0060.jp2)
- 3-4 従来のプローブ作成法との比較 / p54 (0060.jp2)
- 3-5 まとめ / p55 (0061.jp2)
- 第4章 透過形フォトンSTMによる試料の観測 / p57 (0063.jp2)
- 4-1 試料観測への準備 / p57 (0063.jp2)
- 4-2 一般試料の観測 / p68 (0074.jp2)
- 4-3 生物試料の観測 / p72 (0078.jp2)
- 4-4 まとめ / p78 (0084.jp2)
- 第5章 反射共振形フォトンSTM / p80 (0086.jp2)
- 5-1 システムの基本構成 / p80 (0086.jp2)
- 5-2 理論計算 / p83 (0089.jp2)
- 5-3 マイクロ波によるシーミュレーシン実験 / p91 (0097.jp2)
- 5-4 透過形と反射形の比較 / p95 (0101.jp2)
- 5-5 まとめ / p95 (0101.jp2)
- 第6章 検討及び展望 / p97 (0103.jp2)
- 6-1 本研究と他の研究グループとの比較 / p97 (0103.jp2)
- 6-2 今後の課題 / p100 (0106.jp2)
- 6-3 可能の応用分野 / p101 (0107.jp2)
- 第7章 結論 / p103 (0109.jp2)
- 謝辞 / p106 (0112.jp2)
- 本研究に関する発表資料 / p107 (0113.jp2)
- 参考文献 / p111 (0117.jp2)